Product

  • Węgiel/Siarka

    LECO oferuje wiodące rozwiązania w oznaczaniu węgla i siarki w materiałach stałych (poprzez stopienie w piecu indukcyjnym), zarówno dla wysokowydajnych laboratoriów produkcyjnych jak i badawczych. Analizatory sprawdzają się w oznaczaniu zawartości węgla i siarki w stalach, żeliwach, stopach metali nieżelaznych, jak również w innych stałych materiałach niemetalicznych takich jak cement, wapno, rudy, ceramika i inne.

  • Ilościowa analiza pierwiastkowa i profilowa

    Spektrometry ze wzbudzeniem jarzeniowym LECO oferują rozwiązania do rutynowego oznaczania większości materiałów żelaznych w procesie kontroli jak i badawczym. Dostarczają wysoce dokładnych wyników analizy ilościowej jak i rozkład chemiczny na profile w analizie powłok i warstw.

  • Tlen/Azot

    Jednoczesna analiza tlenu i azotu w metalach, węglikach, azotkach oraz innych materiałach nieorganicznych. Jakość urządzeń potwierdzona wieloletnim doświadczeniem zapewnia niezawodność i stałą jakość każdej analizy.

  • Tlen/Azot/Wodór

    Zaawansowana technologia LECO do jednoczesnego oznaczania tlenu, azotu i wodoru w strumieniu gazu nośnego na detektorach podczerwieni i termoprzewodnościowym zapewnia precyzyjną analizę próbek metali, stopów metalicznych i niemetalicznych oraz  innych materiałów nieorganicznych.

  • Wielofazowy węgiel i wodór/wilgoć

    LECO oferuje unikatowe rozwiązania do kwalifikacji i kwantyfikacji różnych rodzajów węgla (powierzchniowy, wolny, organiczny, nieorganiczny) i wodoru/wody obecnych w różnych próbkach organicznych i nieorganicznych.

  • Wodór całkowity i powierzchniowy

    Oznaczenie wodoru w aluminium, różnorakich stopach i innych materiałach zwłaszcza z bardzo niską zawartością wodoru (na  poziomie <2 ppm) z dokładnością do 0.001 ppm. Szerokie możliwości sterowania piecem pozwalają na stosowanie profilów temperaturowych oraz rampingu optymalizując dokładność pomiaru.

  • Wodór całkowity, dyfuzyjny i pozostałościowy

    Oznaczanie wodoru dyfuzyjnego, całkowitego i pozostałościowego na jednym urządzeniu w szerokim zakresie próbek.

Wróć